一. 測(cè)試目的

為了防止人體受到傷害, 單體內(nèi)如有如下不良 : 螺絲松動(dòng), 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒(méi)有插入孔內(nèi), 變壓器及零件絕緣度不佳或絕緣間隙距離不夠, 螺絲或其它異物掉落其中, FUNCTION測(cè)試無(wú)法偵測(cè)到異常之狀態(tài), 因而, 從保護(hù)產(chǎn)品質(zhì)量和產(chǎn)品的安全規(guī)則要求的角度出發(fā), 必須要能檢測(cè)出這些不良, 靜態(tài)時(shí), 單體內(nèi)上述不良, 測(cè)試設(shè)備難找出, 只有將單體放置, 于振動(dòng)系統(tǒng)中, 上述不良才可通過(guò)儀器設(shè)備測(cè)出來(lái).

二. 測(cè)試原理

1. HI-POT TEST<高壓絕緣測(cè)試>: 利用高壓加于某一有絕緣程度的物體兩端, 通過(guò)漏電流的大小來(lái)判知物體之間絕緣性是否達(dá)到其絕緣的規(guī)格之要求, 在此, 我們是把單體的NEVTRAL與LINE短路接于高壓HV端, 輸出端與地線短路接向RETURN端, 加入高壓, 量測(cè)漏電流之大小, 來(lái)判定輸入端與輸出端, 以及輸入端對(duì)接地端絕緣度是否符合安全規(guī)格之要求,

2. GROUND CONTINVITY(接地測(cè)試)：對(duì)AC輸入端的GND及待測(cè)物的外殼灌入25A的電流,測(cè)得地線與外殼不能完全接觸,這樣測(cè)量得阻值會(huì)大于0.1Ω.只有通過(guò)GROUND CONTINUITY 測(cè)試才符合安規(guī)要求,

3. ARCING TEST(電弧測(cè)試)：當(dāng)高壓的兩端靠很近時(shí),會(huì)有尖端放電現(xiàn)象產(chǎn)生,此一現(xiàn)象經(jīng)長(zhǎng)時(shí)間的發(fā)生將可能對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生很大的傷害,較常見(jiàn)的現(xiàn)象有,當(dāng)要組件兩端加高壓時(shí),組件腳有一個(gè)未焊住,但與焊點(diǎn)有接觸,在振動(dòng)時(shí),偶爾脫開(kāi)很小幅度,從而產(chǎn)生尖端放電或有些組件絕緣層有少許的刮傷,                                       

     ARCING定義：ARC為一物理現(xiàn)象,通常是指兩端點(diǎn)之間,因距離不夠或介質(zhì)存在,          

     而在通電時(shí)產(chǎn)生的一個(gè)跳火現(xiàn)象,此跳火現(xiàn)象通常為非連續(xù)性的,

    ARCING偵測(cè)的目的：ARC的產(chǎn)生,并不會(huì)造成產(chǎn)品立即故障或?qū)θ梭w傷害的問(wèn)題,但它會(huì)隨使用時(shí)的的增長(zhǎng),而造成兩端點(diǎn)間的絕緣日益破壞,進(jìn)而造成機(jī)器的故障或?qū)θ梭w的危害,例如”SPS內(nèi)的PCB的螺絲鎖緊,可能會(huì)因工作一段時(shí)間后,中間介質(zhì)阻抗改變,造成浮動(dòng)電位,進(jìn)一步破壞PCB內(nèi)部組件,或因ARC的產(chǎn)生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測(cè)的目的在防患未然,也可說(shuō)是產(chǎn)品可靠度試驗(yàn),

ARC偵試線路原理：在ARC的定義列ARC為非連續(xù)性的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號(hào),因此ARC偵測(cè)線路原理如下：

   從被測(cè)物電流訊號(hào)經(jīng)過(guò)兩回路,一為20—PASS  FILTER,20—PASS  FIELTER 

   是將電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成RMS值,以便量測(cè)與判定,HI—PASS  FILTER則是當(dāng)被測(cè)物電  

   流信號(hào)有ARC(高頻信號(hào))產(chǎn)生時(shí),將低頻濾掉,只留高頻信號(hào),并經(jīng)過(guò)量測(cè)與判別,以上為ARC偵測(cè)線路原理.

  ARC功能偵測(cè)計(jì)算：ARC的產(chǎn)生與兩端點(diǎn)間的電壓與距離有關(guān),因此,ARC的產(chǎn)生

   通常在高壓時(shí)產(chǎn)生,也就是在波峰產(chǎn)生,并且ARC的高頻訊號(hào)也是載在波峰上故計(jì)算

   與量測(cè)方式都是以MHP：

例(一)：

      測(cè)試電壓AC1250VAC時(shí)：

      VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質(zhì)

      GAP=兩端點(diǎn)距離調(diào)整至ARC剛好產(chǎn)生,約0.5MM左右

      因此,ARC電流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

從上述來(lái)看,可奧姆定律來(lái)計(jì)算,但此為理論值,故我們必須考慮各種誤差的可能,如

GAP大小,電阻含   性等因素.

ARC等級(jí)說(shuō)明:

9等級(jí)(0.0027A)

8等級(jí)(0.0055A)

7等級(jí)(0.0077A)

6等級(jí)(0.0100A)

5等級(jí)(0.0120A)

4等級(jí)(0.0140A)

3等級(jí)(0.0160A)

2等級(jí)(0.0180A)

1等級(jí)(0.0200A)

三 測(cè)試設(shè)備：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗壓測(cè)試器)

2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測(cè)試儀)

3. 振動(dòng)機(jī)臺(tái).

四.測(cè)試項(xiàng)目

   1.HI-POT TEST   (高壓測(cè)試)

   2.ARCING TEST   (高弧測(cè)試)

4. GROUND CONTINUITY TEST(接地測(cè)試)

5. INSULATION     (絕緣阻抗測(cè)試)

五.儀器操作(以7440為參考)

   1.WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 選擇項(xiàng)目選按AC-W鍵：

           W-VOLT     1500V         （按數(shù)字鍵輸入）

           HIIMIT      13MA          (按數(shù)字鍵輸入)

           LO-LIMIT    8.0MA         (按數(shù)字鍵輸入)

           RAMP TIME    1S           (按數(shù)字鍵輸入)

           DWEU TIME    3S           (按數(shù)字鍵輸入)

           FREQVENCY   60HZ         (已設(shè)定好)

           ARC  SENSE     8           (已設(shè)定好)

           ARC  FAIL      ON          (按ENTER鍵切換ON/OFF)

           SCANNER SETCH             (未用)

           OFFSET                      (未設(shè)定)

           CONNECT     ON或OFF     (按ENTER鍵切換ON/OFF)

         按“V”鍵上下翻頁(yè)按‘ENTER’自動(dòng)存儲(chǔ),AC或DC請(qǐng)按ENTER鍵切換,設(shè)定一樣欲  知詳細(xì)設(shè)定,請(qǐng)參考使用者手冊(cè).

         AC  LOW  RESISTANCE  TESTER

         先按：GROUNDING后

           CURRENT     25A       (已設(shè)定好)

           CURRENT      25A         (已設(shè)定好)

           VOLTAGE       8V          (已設(shè)定好)

           HI-LIMIT      0.1MΩ       (按數(shù)字鍵輸入)

           20-LIMIT       0MΩ        (按數(shù)字鍵輸入)

           PWELL TIME    2S          (按數(shù)字鍵輸入)

           FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按數(shù)字鍵輸入)

           SCANNER       CH          (未用)

           OFFSET                      (未設(shè)定)

           CONNCT      ON或OFF     (按ENTER鍵切換)

           按‘ENTER’鍵結(jié)束

六.儀器檢查

   1.HI-POT的檢查

     治具原理:用一個(gè)固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據(jù)線路原理:U=IR,計(jì)算出治具檢

     測(cè)時(shí)之漏電流值,并作DAILY  CHECK之比較依據(jù).

     按MEMORY鍵,輸入治具上標(biāo)明之電流參數(shù),接好FAIL SAMPLE按TEST,應(yīng)聽(tīng)到蜂嗚器的

     叫聲,且電流值應(yīng)大于FAIL  SAMPLE上標(biāo)明之漏電流值.

七.測(cè)試判定

  測(cè)試不良分以下幾種:

  BREAKDOWN            OVER FLOW+ARC:輸出過(guò)載, 電弧信號(hào)

  SHORT                  OVER FLOW :輸出過(guò)載

  HI LIMIT FAIL            OVER HI LIMIT SETTING : 電流過(guò)大失敗

  ARC FAIL                >10VS PEAK CURRENT DETECTING

  LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過(guò)小失敗

  OPEN                   CHANGE LO : 直流電壓緩升充電電流

  OFL                     OVER FLOW :輸出過(guò)載